Présentation et objectifs
- Maîtriser les niveaux de robustesse des composants, sous-systèmes et systèmes soumis aux phénomènes de surtensions et de sur-courants (« Electrical Over Stress » ou « EOS ») pour rendre les composants et systèmes plus robustes et fiables lors de leur conception, leur fabrication et leur utilisation.
- Proposer à cet effet des méthodes de test standardisées et les faire adopter par les organismes de normalisation internationaux comme le JEDEC.
- Concevoir et réaliser un prototype de testeur fonctionnant suivant ces méthodes normalisées, afin de caractériser et de garantir la fiabilité des composants et systèmes considérés.
Typologie de projet
Département
Partenaires du projet
Mots clés
Microélectronique, RFID et sans contact, Méthode et outils de co-conception, Interface homme-machine.
